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应中科院功能晶体与激光技术重点实验室邀请，电子科技大学李斌成教授将于7月15日来理化所交流访问，并作学术报告。诚挚欢迎感兴趣的老师和同学们参加学术报告会。 

报告人：李斌成教授（电子科技大学） 

报告题目：激光光学薄膜测试技术 

报告时间：2015年7月15日下午14:30-16:00 

报告地点：理化技术研究所1号楼403会议室 

报告人简介：

李斌成，男，博士，博士生导师，电子科技大学教授，中国科学院光电技术研究所客座研究员，中国科学院优秀“百人计划”入选者，四川省学术和技术带头人，国际标准化组织（ISO）TC 172/SC 9/WG 6（“光学元件及其测试方法”）专家组成员，第14-18届国际光声光热大会国际顾问或技术委员会委员，第17届国际光声光热大会共主席，美国光学学会2013、2016年“光学干涉薄膜”国际会议技术委员会委员，第19、20届“高功率激光系统及应用”国际会议顾问委员会委员，中国科学院第三届学位委员会学科群学位分委员会（材料科学与光电技术）委员和光学工程学科教学专家组成员，全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会委员。2007年获得国际光声光热联合会（IPPA）青年成就奖（国际上获此奖项的第二人），2012年获中国科学院王宽诚西部学者突出贡献奖。 

在国内外主要学术期刊上发表论文190余篇，其中SCI收录论文100余篇，他引500余次。授权美国发明专利2项，中国发明专利35项。目前主要开展光学检测技术、准分子激光测试技术及激光光谱等领域的研究工作。 

报告摘要：

主要介绍激光光学薄膜元件反射率、吸收损耗、散射损耗、损伤阈值等参数的测试方法、相关国际标准及仪器发展，以及中科院光电所近年来在激光光学薄膜测试技术领域，包括吸收损耗和高反射率测试方面的研究进展。